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OLED 박막분석용 면저항측정기
Current Source + 4PP Head
브랜드  : NDK

Item

Specification

Measurement Method

Contact 4-point probe

Measurement Range (1)

1mΩ /sq ~ 10MΩ /sq (Low)

Resolution

1μ Ω /sq

 

Spacing

(Needle to needle)

1mm

(available 0.50, 0.635, 1.00mm, 1.27mm, 1.59mm spacing)

Tolerance

±10um

Cylindrical

4 Point Probe head (2)

Needles

Tungsten carbide

Radii

300 μm

(available12.5, 25, 40, 150, 200, 300, 500 μm)

Depend on material

Loads

100g

(available Low:10~30g, Medium:30~60, High:60~150g)

Accuracy(Repeatability)

±1.0% (1mΩ /sq ~ 10MΩ /sq )

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번호 제목 이름 날짜 비고
2   면저항측정기 견적의 건 최경재 2019-01-09
1   제품견적문의. 원동준 2015-12-22